Обработка результатов. Представление результатов работы. Контрольные вопросы. Работа №8. Изучение дифракции света на щели

1. Ознакомьтесь с устройством микроскопа и его настройкой. Включите осветитель.

2. Настройте микроскоп и добейтесь наблюдения чёткой интерференционной картины. Вращая микрометрический винт, совместите перекрестие окуляр-микрометра с центром интерференционной картины. Запишите координату центра.

3. Проведите измерения радиусов светлых (или тёмных) интерференционных колец. Результаты измерений занесите в таблицу. Здесь x_m – координата соответствующего кольца в делениях окуляр-микрометра, а r_m – радиус кольца в мкм.

m	1		2		3		4		5		6
xm
rm
R

Обработка результатов

4. Для каждой пары значений радиусов r_m рассчитайте по формуле (5) значение R радиуса кривизны линзы.

5. Рассчитайте среднее значение радиуса кривизны линзы и оцените погрешность s_R . Окончательный результат измерений запишите в виде: .

Представление результатов работы

В заключении следует привести найденное экспериментально значение радиуса кривизны линзы.

Контрольные вопросы

1. В чём состоит явление интерференции волн?

2. Какую роль играет воздушный зазор между выпуклой поверхностью линзы и стеклянной пластиной в проделанном эксперименте?

3. Что мы называем кольцами Ньютона?

4. Почему в центре исследованной Вами интерференционной картины наблюдается тёмное пятно?

5. При каких предположениях выведены формулы (3) и (4)? Выведите эти формулы.

6. _

7. _

8. _

9. _

10. _

Литература

Работа №8. Изучение дифракции света на щели

Цель работы: Изучение явления дифракции, определение ширины щели.

Оборудование: Полупроводниковый лазер, тонкая щель, экран с миллиметровой сеткой, оптическая скамья, рейтеры.

Краткая теория

Дифракцией света называется совокупность явлений, которые обусловлены волновой природой света и наблюдаются при его распространении в среде с резко выраженными неоднородностями (например, при прохождении через отверстия в непрозрачных экранах, вблизи границ непрозрачных тел и т.д.). В более узком смысле под дифракцией понимают явление огибания светом малых препятствий и проникновения света в область геометрической тени, т.е. отклонения от законов геометрической оптики.

Огибание препятствий звуковыми волнами (т.е. дифракция звуковых волн) наблюдается постоянно в обыденной жизни. Для наблюдения дифракции световых волн необходимо создание специальных условий. Дело в том, что волны отклоняются от прямолинейного распространения на заметные углы только на препятствиях, размеры которых сравнимы с длиной волны, а длина световой волны очень мала.

Между интерференцией и дифракцией нет существенного физического различия. Оба явления заключаются в перераспределении светового потока в результате суперпозиции (сложения) волн. По историческим причинам перераспределение интенсивности, возникающее в результате суперпозиции волн, возбуждаемых конечным числом дискретных источников, принято называть интерференцией волн. Перераспределение интенсивности, возникающее вследствие суперпозиции волн, возбуждаемых когерентными источниками, расположенными непрерывно, принято называть дифракцией волн. Поэтому говорят, например, об интерференционной картине от двух узких щелей (источников) и о дифракционной картине от одной щели.

С точки зрения волновой теории свет представляет собой электромагнитную волну. В электромагнитной волне колеблются векторы напряжённостей Е и Н электрического и магнитного полей, соответственно. Как показывает опыт, физиологическое, фотохимическое, фотоэлектрическое и другие действия света вызываются колебаниями электрического поля. В соответствии с этим говорят о световом векторе, подразумевая под ним вектор напряжённости электрического поля в световой волне. Амплитуду колебаний светового вектора обозначим буквой А. Соответственно, изменение во времени и пространстве проекции светового вектора на направление, вдоль которого он колеблется, будет описываться уравнением

                        .                 (1)

Здесь k– волновое число ( , где l– длина волны света); w – циклическая частота (w = 2p n, где n – частота волны); r – расстояние, отсчитываемое вдоль направления распространения световой волны; a₀– начальная фаза. Для плоской волны, распространяющейся в непоглощающей среде, , для сферической волны A убывает как .

Проникновение световых волн в область геометрической тени объясняется с помощью принципа Гюйгенса-Френеля, согласно которому каждый элемент волновой поверхности S (рис.1) служит источником вторичной сферической волны, амплитуда которой пропорциональна величине элемента dS.

Рис.1.

Амплитуда сферической волны, как уже отмечалось, убывает с расстоянием r от источника по закону . Следовательно, от каждого элемента dS волновой поверхности в точку P, лежащую перед этой поверхностью, приходит колебание

                    .            (2)

В этом выражении  – фаза колебания в месте расположения волновой поверхности S, k – волновое число, r – расстояние от элемента поверхности dS до точки P. Множитель a₀ определяется амплитудой светового колебания в том месте, где находится элемент dS. Коэффициент К зависит от угла j между нормалью n к площадке dS и направлением от dS к точке P. При j=0 этот коэффициент максимален, при j=90⁰ он обращается в нуль.

Результирующее колебание в точке P представляет собой суперпозицию колебаний (2) вторичных источников, взятых по всей волновой поверхности S:

                  .           (3)

Сказанное означает, что при вычислении амплитуды колебания, порождаемого в точке P световой волной, распространяющейся от реального источника, можно заменять этот источник совокупностью вторичных источников, расположенных на волновой поверхности. В этом и состоит принцип Гюйгенса-Френеля, аналитическим выражением которого является формула (3).

Проиллюстрируем применение принципа Гюйгенса-Френеля на следующем примере. Пусть на бесконечно длинную щель (практически достаточно, чтобы длина щели была во много раз больше, чем её ширина) падает плоская световая волна (рис.2).

Рис.2.

Найдём амплитуду световых колебаний в точке P, находящейся на удалённом экране наблюдения. Для этого, в соответствии с принципом Гюйгенса-Френеля, разобьем открытую часть волновой поверхности на параллельные краям щели элементарные зоны ширины dx.

Ограничившись рассмотрением не слишком больших углов j (рис.2), можно коэффициент K в формуле (2) считать постоянным. Расстояние r от каждой элементарной зоны до точки P будет примерно одним и тем же при условии, что ширина щели b много меньше расстояния L от щели до экрана. Тогда амплитуда колебания, возбуждаемого зоной в любой точке экрана, будет зависеть только от площади зоны. Эта площадь пропорциональна ширине зоны dx. Следовательно, амплитуда dA колебания dE, возбуждаемого зоной ширины dx в любой точке экрана, имеет вид , где .

Обозначим алгебраическую сумму амплитуд колебаний, возбуждаемых в некоторой точке экрана всеми зонами, через A₀. Её можно найти, проинтегрировав dA по всей ширине щели b:

                        .

Отсюда  и, следовательно, .

Теперь определим фазовые соотношения между колебаниями dE. Сопоставим фазы колебаний, возбуждаемых в точке P элементарными зонами с координатами 0 и x (рис. 2). Разность фаз между рассматриваемыми колебаниями образуется на пути D, равном . Если фазу колебания, возбуждаемого элементарной зоной, находящейся в центре щели, положить равной w t (что соответствует выбору начальной фазы ), то фаза колебания, возбуждаемого зоной с координатой x, будет равна

                  

Таким образом, колебание, возбуждаемое элементарной зоной с координатой x в точке P, положение которой на экране определяется углом j, может быть представлено в виде:

                   .

Проинтегрировав это выражение по всей ширине щели, найдём результирующее колебание, возбуждаемое в точке P открытым участком волновой поверхности:

Модуль выражения, стоящего в квадратных скобках, даёт амплитуду A _j результирующего колебания в точке P, положение которой определяется углом j:

                                 .                         (4)

Для точки, лежащей против середины щели, j=0 и, следовательно, амплитуда будет равна A₀. Этот результат можно получить более простым путём. При j=0 колебания от всех элементарных зон приходят в точку P в одинаковой фазе.

Поэтому амплитуда результирующего колебания равна алгебраической сумме амплитуд складываемых колебаний.

При значениях j, удовлетворяющих условию:

                     , (m=1,2,3…)                   (5)

амплитуда A _j обращается в нуль. Таким образом, условие (5) определяет положение тёмных полос (минимумов интенсивности). Положение световых полос (максимумов интенсивности) можно приближённо определить, считая, что они находятся посередине между соседними тёмными полосами:

                              (6)

Интенсивность света пропорциональна квадрату амплитуды. Следовательно, в соответствии с (4)

                                ,                        (7)   где I₀ интенсивность в середине дифракционной картины (против центра щели), I _j - интенсивность в точке, положение которой определяется данным значением j.

График функции (7) изображён на рис. 3. По оси абсцисс отложены значения sin j, по оси ординат – интенсивность I _j.

Рис.3.

Количество минимумов интенсивности определяется отношением ширины щели b к длине волны l. Модуль sin j не может превосходить единицу. Поэтому:

                     , откуда .

При ширине щели, меньшей длины волны, минимумы вообще не возникают. В этом случае интенсивность света (освещённость экрана наблюдений) монотонно убывает от середины дифракционной картины к её краям.

В заключении отметим, что при вычислении разности хода D мы считали лучи, приходящие в точку P от различных элементарных зон открытой волновой поверхности, практически параллельными. Можно показать, что подобное допущение оправдано при соблюдении условия:

                                              .                                          (8)

Рассмотренный случай дифракции на щели (при выполнении условия (8)) носит название дифракции в параллельных лучах или дифракции Фраунгофера. Экспериментальному исследованию дифракции Фраунгофера на щели и посвящена настоящая лабораторная работа. В частности, Вам предстоит определить ширину щели по наблюдаемой дифракционной картине.

Описание эксперимента

Экспериментальная установка состоит из оптической скамьи с набором рейтеров и приспособлений, источника монохроматического излучения (лазера), калиброванной щели и экрана наблюдения. Принципиальная оптическая схема установки представлена на рис. 4.

 

Рис.4.

В лабораторной работе определяется ширина щели по измеренным положениям y_m максимумов освещённости на экране (рис.4). Наблюдение дифракционной картины производится в области дифракции Фраунгофера, где выполняется условие (8) и справедливы формулы (5) – (7).

В соответствии с (6) ширина щели рассчитывается по формуле:

                     m=1,2,3…,             (9)

где l=0.63×10^-6 м – длина волны лазерного излучения. Здесь мы учли, что для малых углов :      , где расстояние L от щели до экрана измеряется при помощи линейки, закреплённой на оптической скамье, либо при помощи измерительной рулетки (в случае, если экран выносится за пределы скамьи для получения более наглядной картины).

По полученным значениям b для различных порядков m дифракционных максимумов находится среднее значение  и оценивается погрешность.

Техника безопасности

· Необходимо соблюдать общие правила техники безопасности лаборатории "Оптика".

· Не следует касаться руками оптических элементов.

· Запрещается включать питание лазера без разрешения преподавателя.

· Конструкция лазера не рассчитана на длительную работу, поэтому его необходимо включать на минимальное время.

⇐ Предыдущая12345678910Следующая ⇒

Поделиться: