|
Архитектура Аудит Военная наука Иностранные языки Медицина Металлургия Метрология Образование Политология Производство Психология Стандартизация Технологии |
Физические основы методов рентгеноструктурного анализа
Обычно рентгеновское излучение получается с помощью рентгеновской трубки, представляющей собой стеклянную колбу с двумя электродами (катодом и антикатодом), из которой откачан воздух. На металлические электроды подаётся постоянное высокое электрическое напряжение ( где
Взаимодействуя с атомами антикатода, электроны быстро теряют скорость, испуская тормозное излучение. Тормозное излучение электронов имеет сплошной спектр, где длина волны лежит в полубесконечном интервале
здесь Формула (2.3) получается на основе закона сохранения энергии, применённому к процессу преобразования кинетической энергии электрона в энергию кванта рентгеновского излучения. Кроме тормозного излучения возникает переизлучение возбуждённых атомов антикатода, имеющие дискретный спектр, который определяется энергетическими уровнями этих атомов. Электроны, обладающие достаточно большой кинетической энергией, выбивают из атомов электроны внутренних оболочек. На образовавшиеся вакансии могут переходить электроны внешних оболочек, испуская кванты рентгеновского излучения определённой частоты, соответствующие разности энергий начального и конечного состояний электронов. Метод Брэгга В методе Брэгга (Рисунок 2.1) рентгеновское излучение 1 через выходное окно рентгеновской трубки 2 и свинцовую диафрагму 3 в виде тонкого луча направляется на кристалл 4, закреплённый на гониометре 5. Отражённое кристаллом излучение 6 фиксируется на специальной фотоплёнке 7. С помощью гониометра кристалл может поворачиваться вокруг оси, проходящей через центр поверхности столика гониометра перпендикулярно этой поверхности.
Рисунок 2.1. Схема спектроанализатора Брэгга. Показатель преломления вещества для рентгеновского излучения близок к единице: стекло Для исследования преломления рентгеновских лучей используется явление полного внутреннего отражения. В случае границы раздела стекло – воздух явление полного внутреннего отражения рентгеновского излучения с Рассмотрим простейший случай, когда рентгеновское излучения в виде плоской монохроматической волны падает под углом скольжения
Рисунок 2.2 Использование атомных слоев кристаллической решетки в качестве дифракционной решетки Если длина волны падающего излучения
Уравнение (2.4), определяющее направления, в которых наблюдаются максимумы интенсивности отраженного излучения, называется условием Брэгга-Вульфа. Очевидно, что для наблюдения этих максимумов необходимая длина волны Для наблюдения обычно используется первый порядок дифракции падающего излучения. Для одного и того же кристалла возможно задание системы плоскопараллельных атомных плоскостей различными способами. В общем случае атомная плоскость кристалла определяется тремя миллеровскими индексами ( Метод Лауэ Для жесткого (с малой длиной волны) рентгеновского излучения удобнее использовать метод Лауэ, где наблюдается дифракционная картина, образованная излучением, прошедшим через кристалл. При взаимодействии с рентгеновским излучением кристалл действует как трёхмерная дифракционная решётка, формирующая на фотопластинке за неподвижным кристаллом спектр рентгеновского излучения в виде отдельных точек, расположенных вокруг центрального пятна (Рисунок 2.3). Открытое в 1912 фон Лауэ с сотрудниками явление дифракции рентгеновского излучения на кристаллах используется для рентгеноструктурного анализа веществ. Дифракционная картинка возникает в результате интерференции волн, рассеянных отдельными атомами кристалла. Основной вклад в рассеяние дают вынужденные колебания электронов внутренних оболочек атомов, возбуждаемые электрическим полем рентгеновского излучения. Рассеивающая способность атома определяется его электронной плотностью и растёт с увеличением порядкового номера (зарядового числа) элемента (если длина волны меньше размера препятствия, то она отражается, если бльше – огибает, если размеры сравнимы - взаимодействует).
Рисунок 2.3 Метод Лауэ. 1 – первичное рентгеновское излучение, 2 - диафрагмы, 3 – кристалл, 4 – фотопластинка. Каждому пятну на лауэграмме (кроме центрального) соответствует определённая длина волны. В случае кубической кристаллической решётки при дифракции на системе плоскопараллельных атомных плоскостей, определяемых миллеровскими индексами ( где Как и в случае метода Брэгга, из сплошного спектра падающего излучения кристалл сам выбирает длину волны В проекционном рентгеновском микроскопе используется теневая проекция объекта, полученная с помощью расходящегося пучка рентгеновских лучей. Он состоит из рентгеновского источника с микрофокусом Получение совершенных кристаллов кремния и германия позволило создать рентгеновские интерферометры. В трехкристальном интерферометре один кристалл расщепляет падающее рентгеновское излучение на две когерентные волны. Второй кристалл отражает одну из этих волн в направлении области интерференции. Третий кристалл необходим для преобразования полученной интерференционной картины атомного масштаба (расстояние между интерференционными полосами Метод рентгеновской томографии даёт возможность реконструировать объёмное распределение физических характеристик изучаемого объекта. Объект рассматривается как совокупность большого числа параллельных сечений. Источник и детектор рентгеновского излучения последовательно переходит от одного поперечного сечения к другому, выполняя для каждого сечения серию измерений. При измерении источник и детектор находятся в противоположных точках периметра сечения, перемещаясь по всему периметру. Для каждого положения выполняются два измерения: в отсутствии объекта, при наличии объекта. По полученным парам значений интенсивности проводится компьютерная реконструкция трёхмерного распределения исследуемой физической характеристики объекта. Контрольные вопросы к главе 2 1. В чем заключается отличие методов Брэгга и Лауэ? 2. Укажите области практического применения методов рентгеноструктурного анализа. 3. В чем заключаются достоинства методов рентгеноструктурного анализа материалов? 4. В каких физических эффектах проявляются явления дифракции и интерференции движущихся частиц? 5. В чем заключается различие дифракционных явлений движущихся частиц, получаемых методами Брэгга и Лауэ? |
Последнее изменение этой страницы: 2019-03-22; Просмотров: 144; Нарушение авторского права страницы