Суммарная погрешность измерения и её составляющие

 

При расчете КИП на точность определяют его суммарную погрешность измерения ε_изм, состоящую из систематических и случайных погрешностей, по следующей формуле:

где

ε_иу – систематическая погрешность, вызванная неточностью изготовления установочных элементов и неточностью их расположения на корпусе контрольно-измерительного приспособления при его сборке;

ε_ип – систематическая погрешность, вызванная неточностью изготовления передаточных элементов, рычагов, штифтов, стержней и др.;

ε_им – систематическая погрешность, вызванная неточностью изготовления установочных мер и эталонных деталей, используемых для настройки средств измерения на контролируемый параметр (при их использовании);

ε_нб – погрешность, вызванная несовмещением измерительной базы с технологической базой (в приспособлениях для межоперационного контроля) или конструкторской базой (в приспособлениях для окончательного контроля);

ε_з – погрешность, возникающая в результате закрепления контролируемого объекта, вследствие его возможной деформации (не учитывается, если деталь жесткая, а силы закрепления небольшие или отсутствуют);

ε_ис – погрешность, зависящая от измерительной силы, возникает в результате смещения измерительной базы детали от заданного положения в процессе измерения, имеет случайный характер (учитывается только для высокоточных измерений или при контроле нежестких деталей);

ε_зп – погрешность, возникающая по причине зазоров между осями рычагов передаточных устройств (при их наличии);

ε_си – погрешность используемого средства измерений;

ε_др – другие погрешности, вызванные действием случайных факторов при выполнении контроля. К ним относятся: погрешность базирования детали, погрешность из-за износа элементов приспособления и их температурных деформаций, погрешность, связанная с квалификацией контролера, погрешность отклонения деталей или эталонов от правильной геометрической формы (при их использовании) и др. Вклад этих погрешностей по отдельности незначителен, однако в сумме они могут повлиять на точность контроля. В учебных целях в расчетах для данной категории погрешностей выделяют часть допуска на контролируемый параметр, так для контрольных приспособлений можно принять ε_др = (0,03 – 0,05)T_К.

Для того чтобы контрольно-измерительное приспособление было признано годным для контроля некоторого параметра (размера, формы, отклонения от перпендикулярности, параллельности и т. д.), необходимо, чтобы соблюдалось следующее условие

ε_изм ≤ [ε_изм ].

При несоблюдении данного условия следует изменить конструкцию приспособления с целью уменьшения отдельных составляющих суммарной погрешности измерения. Можно ужесточить требования к изготовлению деталей и к сборке КИП, ужесточить требования к изготовлению эталонов, выбрать другое средство измерений или отказаться от выбранной схемы контроля в пользу другой. Последнее особенно актуально, если в приспособлении измерительная база не совмещена с требуемой базой (конструкторской или технологической).

 

Если в приспособлении выполняется контроль нескольких параметров, то расчет с проверкой пригодности должен выполняться по каждому из них.

 

⇐ Предыдущая123456Следующая ⇒

Поделиться: