Архитектура Аудит Военная наука Иностранные языки Медицина Металлургия Метрология
Образование Политология Производство Психология Стандартизация Технологии


ПОЛУПРОВОДНИКОВ ОТ ТЕМПЕРАТУРЫ.



 

ЦЕЛЬ РАБОТЫ

 

1. Провести исследование зависимости сопротивления полупроводника от температуры

2.Определить энергию активации.

 

ТЕОРЕТИЧЕСКОЕ ВВЕДЕНИЕ

 

К полупроводникам относят широкий класс веществ, характеризующийся значением удельного сопротивления r, промежуточным между удельным сопротивлением металлов 10-6 – 10-8 Ом. м и удельным сопротивлением диэлектриков 10 10- 1012 Ом м. При абсолютном нуле температуры полупроводники ведут себя как диэлектрики. Характерные полупроводниковые свойства кристаллов появляются при нагревании и при введении в них примесей.

Сопротивление полупроводников в отличие от металлов уменьшается с повышением температуры. В широком интервале температур эта зависимость имеет экспоненциальный характер:

R = A exp( ) (27)

 

где Eg - энергия активации или ширина запрещенной зоны, ее значение может быть равным от сотых долей электрон вольт (эВ) до 2-3 эВ; А - коэффициент, слабо зависящий от температуры, k – постоянная Больцмана.

Формула (27) показывает, что для валентных электронов в полупроводнике энергия связи с атомами порядка Eg. С увеличением температуры часть электронов, пропорциональная

ехр ( ), становится свободной и участвует в создании тока проводимости.

Связь электронов с атомами может быть разорвана и другими воздействиями на них: электрическим полем, облучением светом или более жестким электромагнитным излучением и т.д.

Все полупроводники можно условно разбить на две группы: элементарные – чистые (германий, кремний и т.д.) и полупроводниковые соединения (оксиды, сульфиды, двойные соединения элементов третьей и пятой групп периодической системы АIII ВV, например, арсенид галлия GaAs и т.д.).

Исследования показывают, что носители тока в полупроводниках имеют как отрицательный, так и положительный заряды. В результате разрыва связи с атомами электроны переходят в пространство кристаллической решетки и участвуют в токе проводимости как отрицательные носители тока. Разорванная связь вдали от свободного электрона становится положительным носителем тока – дыркой, блуждающим по кристаллу. В элементарных полупроводниках концентрации электронов и дырок равны, но их вклад в электропроводность не одинаков, так как подвижность носителей тока различна. Проводимость чистых элементарных полупроводников носит название собственной проводимости.

Источниками носителей тока в полупроводниковых соединениях могут быть атомы примеси, дефекты кристаллической решетки и т.д. Примеси, дефекты делятся на доноры и акцепторы. Доноры отдают в пространство кристаллической решетки избыточные электроны и создают электронную проводимость (полупроводники n-типа).

Акцепторы захватывают валентные электроны у атомов вещества, в кристаллической решетке которого они находятся, и создают дырочную проводимость (полупроводники р-типа).

Теоретическая модель проводимости полупроводников была разработана А. Вильсоном в 1931 году после создания квантовой теории твердого тела.

 

ОПИСАНИЕ УСТАНОВКИ.

 

Схема установки и порядок проведения эксперимента те же, как и в работе 4. Сопротивление полупроводника измеряется здесь с помощью осциллографа С1-112.

 

ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ.

 

1.По экспериментальным данным построить график зависимости, откладывая по осям значения

lnR и 1/T. Линейный характер полученной зависимости свидетельствует об экспоненциальным

законе спадания сопротивления с увеличением температуры.

2.Значение энергии E g может быть вычислено из формулы (27): если ее прологарифмировать, то

получим:

ln R = ln A + E g / 2kT

 

Вводя обозначения: новые переменные lnR = y, 1/T = x и ln A = b, E g /2k = a (28) - новые постоянные, приходим к зависимости вида y = ax + b.

 

КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ.

 

1.Что является носителями зарядов в металлах, в полупроводниках n и р - типа?

2.Что такое собственная и примесная проводимости полупроводников? За счет чего они

образуются?

3.Как объяснить полученную температурную зависимость сопротивления полупроводников?

(Сравнить с аналогичной зависимостью металлов).

 

ЛИТЕРАТУРА: [6. §166]

 

 

РАБОТА 6. ИССЛЕДОВАНИЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВОГО ДИОДА.

ЦЕЛЬ РАБОТЫ.

 

1.Исследовать работу полупроводникового диода в качестве выпрямителя.

2.Провести осциллографическое исследование вольт-амперной характеристики

полупроводникового диода.

3.Снять вольтамперную характеристику диода с помощью амперметра и вольтметра.

4.Определить значение элементарного заряда.

 

ТЕОРЕТИЧЕСКОЕ ВВЕДЕНИЕ.

 

Полупроводниковый диод – распространенный прибор для выпрямления переменного тока. Выпрямители – устройства, обладающие односторонней проводимостью, вольт-амперная характеристика их несимметрична. Для полупроводнико –

вого диода она имеет вид, указанный на рис.11.

Полупроводниковый диод представляет собой кристалл,

содержащий две области с различным типом проводимости

(см. работу 5), причем переход от проводимости n-типа к

р-типу осуществляется плавно. Толщина р-n перехода состав-

ляет величину порядка 10-4 см.

Рассмотрим качественно физические процессы, происходя-

щие в р-n переходе. В области р-типа основными носи-

телями заряда являются дырки, а не основными – элек-

троны, т.к. число дырок значительно превышает число

свободных электронов.

В области n-типа наоборот количество свободных электронов превышает число дырок.

Если между этими областями существует контакт (рис.12а), то вследствие диффузии основных носителей через р-n переход возникает электрическое поле, препятствующее дальнейшей диффузии основных носителей через переход, контактная разность потенциалов определяет высоту потенциального барьера По. Через эту граничную область диффундируют и не основные носители, создавая ток IS, называемый дрейфовым. В отсутствие внешнего электрического поля или другого воздействия на р-n переход дрейфовый ток уравновешивается

диффузионным током Ir основных носителей, результирующий ток через контакт равен нулю.

 

 

Пусть на p-область накладывается отрицательный, а на n-область положительный внешний потенциал (рис.12б), в результате чего разность потенциалов между этими областями увеличивается. Основные носители в обеих областях уходят от р-n перехода, ток I r близок к нулю, дрейфовый ток Is, создаваемый неосновными носителями, также мал. Результирующий ток через контакт, хотя и не равен нулю, но очень мал (обратный ток - нижняя ветвь на рис.11).

Этот факт можно трактовать как увеличение сопротивления переходного слоя при обеднении его носителями тока.

Пусть на p-область накладывается положительный, а на n-область - отрицательный потенциал (рис.12в). Это приводит к снижению высоты потенциального барьера в p-n переходе. Ток Ir при этом становится значительно больше, чем ток Is, так как основные носители движутся к p-n переходу навстречу друг другу. Увеличение числа свободных зарядов снижает сопротивление перехода. Результирующий ток с увеличением напряжения, приложенного к p-n переходу, резко возрастает (прямой ток на рис.11).

Зависимость результирующего тока p-n перехода от приложенного напряжения описывается формулой

I = IS [еxp ( ) -1]

где: IS - предельное значение обратного тока,

U - внешнее напряжение, приложенное к p-n переходу,

k - постоянная Больцмана, T - температура,

При температурах, близких к комнатной и выше, и напряжениях U > 0, 1B, единицей по сравнению с экспонентой можно пренебречь и считать, что

 

I = I S exp ( ) (29)

где n - коэффициент, зависящий от типа диода (n=4).

 

ОПИСАНИЕ УСТАНОВКИ

 

Для проведения лабораторной работы используется стенд, на котором смонтированы три схемы 1 - источник питания для снятия вольт-амперных характеристик;

2 - для наблюдения осциллограммы вольт-амперной характеристики;

3 - для изучения работы однополупериодного выпрямителя.

 

ПОРЯДОК ВЫПОЛНЕНИЯ РАБОТЫ

 

ЗАДАНИЕ 1. Принцип работы выпрямителя.

Подключите схему 3 стенда (рис.13) к осциллографу. При включенной развертке получите на экране кривую изменения во времени напряжения на резисторе R в двух случаях: при замкнутом и при разомкнутом ключе К.

В отчете дать вид осциллограмм, скопированный с экрана, и их объяснение

 

 

ЗАДАНИЕ 2. Наблюдение вольт-амперной характеристики.

 

Для выполнения задания необходимо воспользоваться схемой 2 стенда (рис.14) и осциллографом.Генератор развертки осциллографа должен быть отключен. В отчете привести вид вольт-амперной характеристики, скопированной с экрана, и пояснения ее хода.

 

ЗАДАНИЕ 3. Снятие вольт-амперной характеристики.

 

Используется схема 1 стенда, к которому подключаются амперметр и вольтметр через дополнительную схему, содержащую диод. Регулировка напряжения производится резисторами схемы 1. При проведении измерений следует учитывать, что измерительные приборы имеют собственное сопротивление и поэтому изменяют режим работы исследуемой цепи. При снятии вольт-амперной характеристики для прямого тока при подключении к стенду приборов необхо-

димо использовать схему рис.15а, для обратного тока – схему рис.15б.

 

 

ЗАДАНИЕ 4. Пользуясь вольтамперной характеристикой p-n перехода и формулой ( 29 ), определить величину элементарного заряда.


Поделиться:



Популярное:

Последнее изменение этой страницы: 2016-08-31; Просмотров: 618; Нарушение авторского права страницы


lektsia.com 2007 - 2024 год. Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав! (0.024 с.)
Главная | Случайная страница | Обратная связь