Архитектура Аудит Военная наука Иностранные языки Медицина Металлургия Метрология Образование Политология Производство Психология Стандартизация Технологии |
Дифракция света. Принцип Гюйгенса-Френеля.
Дифракцией называется огибание волнами препятствий, встречающихся на их пути, или в более широком смысле - любое отклонение распространения волн вблизи препятствий от законов геометрической оптики. Благодаря дифракции волны могут попадать в область геометрической тени, огибать препятствия, проникать через небольшие отверстия в экранах и т. д. Например, звук хорошо слышен за углом дома, т. е. звуковая волна его огибает. Явление дифракции объясняется с помощью принципа Гюйгенса, согласно которому каждая точка, до которой доходит волна, служит центром вторичных волн, а огибающая этих волн задает положение волнового фронта в следующий момент времени. Согласно принципу Гюйгенса - Френеля, световая волна, возбуждаемая каким-либо источником S, может быть представлена как результат суперпозиции когерентных вторичных волн, «излучаемых» фиктивными источниками. Такими источниками могут служить бесконечно малые элементы любой замкнутой поверхности, охватывающей источник S. Обычно в качестве этой поверхности выбирают одну из волновых поверхностей, поэтому все фиктивные источники действуют синфазно. Таким образом, волны, распространяющиеся от источника, являются результатом интерференции всех когерентных вторичных волн. Френель исключил возможность возникновения обратных вторичных волн и предположил, что если между источником и точкой наблюдения находится непрозрачный экран с отверстием, то на поверхности экрана амплитуда вторичных волн равна нулю, а в отверстии - такая же, как при отсутствии экрана. Учет амплитуд и фаз вторичных волн позволяет в каждом конкретном случае найти амплитуду (интенсивность) результирующей волны в любой точке пространства, т. е. определить закономерности распространения света.
38. Условие наблюдения максимума дифракционной решетки. Дифракция рентгеновских лучей (ф. Вульфа-Брега).
Дифракционная решетка – система параллельных щелей равной ширины, лежащих в одной плоскости и разделенных равными по ширине непрозрачными промежутками. Поместим на пути вторичных волн собирающую линзу. Она сфокусирует в соответствующем месте своей фокальной поверхности все вторичные волны, распространяющиеся под одним и тем же углом дифракции. Для того, чтобы все эти волны при наложении максимально усиливали друнг друга, необходимо, чтобы разность фаз волн, приходящих от соответствующих точек двух соседних щелей, т.е. точек, отстоящих на одинаковых расстояниях от краев этих щелей, была равна четному числу p или разность хода этих волн была равна целому числу m длин волн l. Из рис. 3.2 видно, что разность хода волн 1 и 2 для точки Р равна: D = d sina. (3.1) Следовательно, условие максимумов интенсивности результирующей световой волны при дифракции от дифракционной решетки можно записать следующим образом: d sina = ml, (3.2.) где m = 0, ± 1, ± 2,... знак плюс соответствует положительной разности хода (D ), минус - отрицательной. Максимумы, удовлетворяющие условию (3.2), называются главными, число m называется порядком главных максимумов или порядком спектра. Значению m = 0соответствует максимум нулевого порядка (центральный максимум). Максимум нулевого порядка один, максимумов первого, второго и т.д. порядков по два слева и справа от нулевого. Между двумя соседними главными максимумами лежат N-1 добавочных максимумов и N-2 слабых по интенсивности добавочных максимумов. Условие добавочных максимумов: , (3.4.) где m = 0, ± 1, ± 2,...; q = ± 1, ± 2,... ± (N-2); N - общее число щелей решетки, через которые проходит свет, создающий дифракционную картину. Дифракция рентгеновских лучей (ф. Вульфа-Брега). Представим кристаллы в виде совокупности параллельных кристаллографических плоскостей (рис. 264), отстоящих друг от друга на расстоянии d.
Рис. 264 Пучок параллельных монохроматических рентгеновских лучей (1, 2) падает под углом скольжения q(угол между направлением падающих лучей и кристаллографической плоскостью) и возбуждает атомы кристаллической решетки, которые становятся источниками когерентных вторичных волн 1¢ и 2', интерферирующих между собой, подобно вторичным волнам, от щелей дифракционной решетки. Максимумы интенсивности (дифракционные максимумы) наблюдаются в тех направлениях, в которых все отраженные атомными плоскостями волны будут находиться в одинаковой фазе. Эти направления удовлетворяют формуле Вульфа - Брэггов (182.1) т. е. при разности хода между двумя лучами, отраженными от соседних кристаллографических плоскостей, кратной целому числу длин волн А, наблюдается дифракционный максимум.
|
Последнее изменение этой страницы: 2017-03-14; Просмотров: 465; Нарушение авторского права страницы