Архитектура Аудит Военная наука Иностранные языки Медицина Металлургия Метрология Образование Политология Производство Психология Стандартизация Технологии |
Структурные модификации пористого кремния
Изменяя условия анодирования, можно получать пористый кремний с различной морфологией (геометрией) пор или, иными словами, – пористый кремний различных структурных модификаций. На поперечный размер R пор влияют плотность тока анодирования, время процесса, дополнительное освещение образца в электрохимической ячейке, состав электролита, уровень и вид легирования кремния и т. д. В результате этот размер может изменяться 10 мкм до I нм. По существующей в литературных источниках классификации пористый кремний подразделяется на микропористый (R < 2 нм), мезопористый (2 нм < R < 50 нм) и макропористый (R > 50 нм). На рис. 1.7, рис. 1.8 в качестве примера представлены микрофотографии низкоразмерного кремния, полученного в различных технологических режимах авторами данной лабораторной работы на образцах монокристаллического кремния (100) n-типа электропроводности с использованием той самой ячейки, которая применяется в описываемой лабораторной работе. Здесь изображены соответственно фронтальные поверхности и поверхности сколов низкоразмерного кремния. На рис. 1.7 изображены поверхности низкоразмерного кремния одного образца, снятые с противоположных сторон. Низкоразмерный кремний получен за один технологический цикл. На рис.1.8 можно видеть поверхности сколов двух образцов, анодированных в разных технологических условиях. Верхние слои получены на поверхности, ближней к катоду. Демонстрируемые рисунки показывают зависимость структуры низкоразмерного кремния как от технологических режимов, так и от удаленности формируемого слоя от катода.
а) б)
Рис. 1.7. Микрофотографии низкоразмерного кремния, полученные с помощью электронного микроскопа: а – ближней к катоду поверхности; б – дальней от катода поверхности
а) б) Рис. 1.8. Микрофотографии сколов образцов с низкоразмерным кремнием, полученные с помощью электронного микроскопа: а – при меньшей плотности тока; б – при большей плотности тока
а) б) Рис. 1.9. Микрофотографии сколов образцов с низкоразмерным кремнием, полученные с помощью оптического микроскопа: а – при гальваностатическом режиме; б – при потенциостатическом режиме
Основным параметром любого пористого материала является показатель пористости П. Этот показатель определяет долю объема материала, занятую порами. Для пористого кремния значения пористости могут находиться в необычайно широком интервале: от 5 до 95 %. Когда объем, занимаемый порами, невелик (5 %), свойства такого материала близки к свойствам кристаллического кремния. При высоких показателях пористости картина существенно меняется и такой пористый кремний проявляет новые свойства, многие из которых являются уникальными. Как уже сообщалось, суммарная площадь внутренней поверхности низкоразмерного кремния велика. В зависимости от величины пористости и геометрии пор она может составлять для макропористого кремния от 10 до 100 м^2/см^3, для мезопористого от 100 до 300 м^2/см^3 и для микропористого от 300 до 800 м^2/см^3. Для сравнения следует отметить, что удельная поверхность монокристаллического кремния составляет всего 0, 1–0, 3 м^2/см^3. Электрические свойства пористого кремния также зависят от его структуры.
Описание технологического и измерительного оборудования
Структурные и морфологические особенности кремниевой низкоразмерной среды исследуются с помощью оптического интерференционного микроскопа и растрового электронного микроскопа. Внешний вид микроскопов. Максимальное увеличение данного микроскопа составляет 500 крат.Поэтому он используется для предварительных исследований структуры низкоразмерной среды. Описание микроскопа.
Задание на выполнение лабораторной работы
В работе необходимо выполнить следующее: 1.5.1. Изучить физическую сущность получения пористого кремния. 1.5.2. Ознакомиться с работой измерительного оборудования по описаниям к соответствующим приборам. 1.5.3. Получить у преподавателя кремниевый образец c низкоразмерной полупроводниковой средой. 1.5.7. Исследовать с помощью оптического микроскопа и растрового электронного микроскопа пористую низкоразмерную среду, определяя ее структурные характеристики: толщину пористого слоя, диаметр пор, расстояния между порами, форму пор; 1.5.8. Провести анализ структурных характеристик низкоразмерной среды на их зависимость от технологических режимов; 1.5.9. Оформить отчет по лабораторной работе. Популярное:
|
Последнее изменение этой страницы: 2016-03-17; Просмотров: 1193; Нарушение авторского права страницы