Основные фотометрические величины.

Световой поток характеризуется потоком лучистой энергии. Его мощность оценивается с пом человеческого глаза по зрительному ощущению. Глаз имеет разную чувствит-ть, а наиб чувствителен к сине-зеленому свету и если «видность» этого участка спектра принять за 1, то остальные будут < 1, и эта величина называется коэффициентом видности. Световой поток: изм в [ЛМ] где Е – мощность потока для , V – коэффиц видности для этой .

Источник света – характ-ся силой света. Полный световой поток от некот источника опред-ся: Ф = , где I – сила света в [Кд] – кандела

Яркость – характ-ет светящееся тело по силе света, испускаемой единицей поверхности, перпендикулярно выбранному направлению. Измеряется в [Кд/м²];

Светимость – опред-ся как отнош полного светового потока к площади пов-ти святящегося тела: R = .

Освещенность плоской поверхности - отнош светового потока, нормально падающего на поверхность к S этой пов-ти; измеряется в [ЛК] - люксах. Если некоторая поверхность освещена источником, то освещенность: E = , где L – расстояние от источника до поверхности; - угол между нормалью поверхности и лучом.

 

Интерференция света.

Интерференция – явление усиления или ослабления колебаний при прохождении волн с одинаковыми периодами. Обязат условие интерференции – когерентность волн, т.е. равенство частот и постоянство разности фаз.

Условию когерентности соотв только монохроматические волны.

Для волн характерен принцип суперпозиции: если 2 волны проходят через 1 точку, то результирующая направленность электрич и магнитного полей волн = ∑ от каждой в отдельности.

Амплитуду результирующего колебания определяют путем геометрического сложения исходных амплитуд.

Если разность фаз = 0; 2 ; 4 …, то cos В этом случае происходит усиление колебаний.

Если разность фаз = , то cos(…) = -1. Происходит ослабление колебаний.

Если разность фаз = (2k+1) , k= 1, 2, 3…при рассмотрении интерференции ее условно определяют не через разность фаз, а через разность хода лучей.

Величина k – порядок интерференции.

 

Дифракция света.

Дифракция – явление отклонения света от прямолинейного распростр, когда свет, огибая препятствие заходит в область геометрич теплоты.

Дифракция основана на принципе Гюйгенса: каждая точка, до кот доходит фронт световой волны становится условным источником элементарных колебаний, а линия, огибающая эти колебания представляет собой полный фронт волны.

Свет от источника проходит через точечное отверстие в экране и имеет место загибание направлений распространений волн, т.е. дырка в экране становится источником света.

 

Дифракционная решетка.

Решетки – множ-во //, расположенных на одинаковых расстояниях одинаковых щелей.

Разность хода 2-х лучей составляет: S = , где c = const решетки.

Если S – нечетное число полуволн, то свет будет взаимогаситься, а если четное, то взаимозаливаться.

Условия min и max: – min;

Т.к. разные лучи имеют max в разных направлениях, то решетка будет разлагать белый свет на дифракционный спектр.

Постоянная решетки – число штрихов на единицу длины: C =

Чем больше щелей в решетке, тем больше света через нее проходит и тем выше резкость дифракционной картины.

Решетки исп-ся в спектральном анализе.

Помимо решеток, работающих на пропускание, сущ-ют отражающие решетки (набор темных штрихов, нанесенных на зеркальную поверхность, либо набор бороздок, нанесенных на отражающую поверхность).

 

 

Поглощение и рассеяние света.

Т.к. световая волна несет в себе поток энергии, то при прохождении через в-во эта энергия поглощается и переходит в др формы.

Поглощение света также приводит к нагреву в-ва и основную роль в поглощении играют свободные е. Относит ослабление света при прохождении через тонкие слои материала не зав от исходного светового потока: Ф = Ф₀ exp(-Kx) – з-н Бугера-Ламберта, где Ф – прошедший через в-во поток; Ф₀ – исходный световой поток, x – толщина слоя в-ва; k – коэффициент поглощения, зав от в-ва и длины волны.это ур-е справедливо, пока к не зав от светового потока. Если вместо к исп показатель поглощ, то:

Ф = Ф₀ exp(- Сx) – з-н Бугера-Ламберта-Бера, где – показатель поглощ.

 

⇐ Предыдущая123456789Следующая ⇒

Поделиться:

Популярное:

1. I. 49. Основные принципы разработки системы применения удобрений.
2. I. Основные подходы к определению и изучению культуры.
3. I. Основные физические явления и процессы в электрических аппаратах
4. I. Основные черты и особенности западноевропейской культуры XIX века
5. I. Основные черты и особенности западноевропейской культуры XIX века.
6. I. ХАРАКТЕРИСТИКА ТЕКУЩЕГО СОСТОЯНИЯ, ОСНОВНЫЕ ПРОБЛЕМЫ РАЗВИТИЯ СФЕРЫ КУЛЬТУРЫ И ИСКУССТВА
7. II. 36. Основные задачи семеноводства.
8. II. Основные электромеханические процессы
9. II. ОСНОВНЫЕ ЭТАПЫ ВЫПОЛНЕНИЯ ВКР
10. IV. Основные направления исследования
11. V. ОСНОВНЫЕ ЦЕЛИ ФУНКЦИОНИРОВАНИЯ ЭКОНОМИКИ
12. А.2 ОСНОВНЫЕ ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ