Архитектура Аудит Военная наука Иностранные языки Медицина Металлургия Метрология Образование Политология Производство Психология Стандартизация Технологии |
Сравнение выбранного магнитооптического метода с другими методами визуализации.
Сравнение магнитооптического способа визуализации магнитной записи с другими, известными ранее, позволяет сделать выводы об определенных его преимуществах. Если сравнивать магнитооптический способ с порошковым, то оказывается, что последний сильно уступает по пространственному разрешению, редко достигающему величины 20 мкм. Магнитооптический метод более чувствителен и обеспечивает большую оперативность наблюдений при лучшем качестве изображения. Магнитооптический способ гораздо проще, чем способ визуализации, использующий пленки с полосовой структурой, который требует наличия дополнительных источников переменных и постоянных магнитных полей. Кроме того, неудобством является косвенный метод наблюдения – с помощью дифракции на частицах коллоида, ориентированных полосовой доменной структурой. Использование для визуализации метода, связанного с размягчением рабочего слоя носителя записи, приводит к необратимым повреждениям носителя и это резко ограничивает возможности его применения. Применение электронно-оптических методов, обладающих субмикронным пространственным разрешением, существенно ограничено их уникальностью и сложностью технической реализации. Использование для визуализации аморфных пленок, содержащих железо, позволяет достичь достаточной чувствительности и высокого пространственного разрешения. Но низкая эффективность отражательного магнитооптического эффекта Керра не дает возможности получить приемлемый для наблюдения контраст изображения.
Результаты сравнения позволяют заключить, что по совокупности параметров – чувствительности, разрешающей способности, контрасту изображения, простоте и удобству пользования – магнитооптический способ визуализации магнитной записи обладает рядом преимуществ по сравнению с известными способами.
Математическое описание ОЭУРМ Для математического описания рассмотрим систему поляризатор-магнитооптический кристалл-анализатор и опишем происходящие процессы при помощи аппарата поляризационной оптики.
Поляризатор. Поляризатором называется оптическое устройство, преобразующее проходящий через него естественный свет в поляризованный. Поляризатор, предназначенный для обнаружения поляризации, называется анализатором. Действие поляризационных приборов основано на одном из физических явлений: а) на отражении и преломлении на границе двух диэлектриков (например, воздух – стекло); б) двойном лучепреломлении; в) на дихроизме (явлении различного поглощения o- и е- лучей). В данной работе в качестве поляризаторов применяются поляроиды Н-типа, работающие на дихроизме. Поляроидом Н-типа называют прозрачный плоский полимерный материал, который состоит в основном из полимерных молекул, имеющих преимущественное направление, и окрашен веществом, обеспечивающим дихроизм пленки [14]. Линейно поляризованный свет получается при прохождении света через поляроид. Поляроид сильно поглощает световые лучи, в которых электрический вектор перпендикулярен к оптической оси. Если же электрический вектор параллелен оси, то такие лучи проходят почти без поглощения. Поэтому естественный свет, пройдя через поляроид, наполовину поглощается и становится линейно поляризованным с электрическим вектором, ориентированным параллельно оптической оси поляроида [15]. Наиболее полным методом описания поляризатора является представление в виде 4Х4-матрицы Мюллера, состоящей из 16 действительных элементов. С помощью такой матрицы можно описывать любой поляризатор, независимо от того, вносит ли он, кроме поляризации, сдвиг фаз или рассеяние и состоит ли он из одного слоя или из многих слоев. Если рассеяние отсутствует, то можно применять 2Х2-матрицу Джонса. Метод Мюллера представляет собой матричное описание светового пучка и оптического устройства, через которое проходит свет, и позволяет вычислить результат взаимодействия света с этим устройством. Обычные методы становятся чрезвычайно громоздкими, когда число поляризаторов или фазовых пластинок велико. Преимущества метода Мюллера состоят в том, что он дает возможность: а) сконцентрировать все необходимое для описания пучка света параметры в едином выражении, б) записать в едином выражении все параметры поляризатора или фазовой пластинки и в) получить результат взаимодействия света с системой различных оптических элементов (поляризаторы, фазовые пластинки, рассеивающие устройства) путем простого перемножения соответствующих выражений по определенным правилам [16]. Пучок света описывается вектором Стокса, определяемым четырьмя параметрами I, M, C, S, которые связаны с интенсивностью. Этот вектор записывается обычно в виде вертикального столбца или в виде горизонтальной строки:
Параметр Iназывается интенсивностью, параметры M, Cи Sназываются соответственно параметром преимущественной горизонтальной поляризации, параметром преимущественной поляризации под углом +450 и параметром преимущественной правоциркулярной поляризации. Когда параметр имеет отрицательную величину, это значит, что преимущественной является ортогональная форма поляризации. Матрица Мюллера поляроида записывается следующим образом: Однако, в более точном представлении поляроид представляет собой однородный нерассеивающий недеполяризующий недвупреломляющий поляризатор с главными значениями пропускания τ 1=0, 8 и τ 2=0, 0003 с горизонтальной осью пропускания, поэтому его матрица имеет вид:
Если свет проходит три оптических устройства, необходимо использовать три матрицы и произвести три умножения. Если эти три матрицы обозначить через [M1], [M2] и [M3], а через [Vi] – вектор Стокса падающего света, то процедуру определения вектора Стокса [Ve] выходящего света схематически можно записать следующим образом: Таким образом, выпишем матрицы Мюллера для каждого оптического элемента и найдем вектор Стокса на выходе. Магнитооптический кристалл
Осуществляет модуляцию по амплитуде, вращает плоскость поляризации (модуляция поляризации) на определенный угол. Магнитооптические эффекты можно разделить на две основные группы: эффекты, наблюдаемы при прохождении света через магнитооптический материал, и эффекты, при отражении света от поверхности магнитооптического материала. В данной работе применяется эффект первой группы. Эффекты первой группы связаны с двойным круговым преломлением, т.е. с различием комплексных показателей преломления право- и левополяризованных по кругу волн. Действительная часть двупреломления описывает поворот плоскости поляризации, а мнимая его часть, - превращение линейно поляризованного излучения в эллиптически поляризованный. Если линейно поляризованную волну представить как сумму право- и лево- поляризованных по кругу волн, то первый из упомянутых эффектов будет связан с различием скоростей их распространения, а второй – с различием их коэффициентов поглощения. Если свет распространяется через магнитооптический материал параллельно вектору его намагниченности, то наблюдается магнитное круговое двупреломление, носящее название эффекта Фарадея. Эффект Фарадея пропорционален пути светового пучка в магнитоупорядоченной среде , где - удельное фарадеевское вращение; - длина пути в магнитной пленке феррит-граната, α – угол между направлением распространения излучения и вектором намагниченности М.
Таким образом, плоскость поляризации поворачивается на угол:
Магнитную пленку феррит граната можно представить, как фазовую пластину, описываемую матрицей Мюллера: где
Анализатор.
Анализатор – устройство, предназначенное для анализа характера поляризации света. В данной работе применяется линейный анализатор – служащий, для обнаружения линейно поляризованного света и определения угла наклона его плоскости поляризации. Рис. 1.14. Два поляроида поставлены друг за другом, так что их оси ОА1 и ОА2 образуют между собой некоторый угол α (рис. 1.14). Первый поляроид пропустит свет, электрический вектор Е0 которого параллелен его оси ОА1. Обозначим через I0 интенсивность этого света. Разложим Е0 на вектор Е||, параллельный оси ОА2 второго поляроида, и вектор Е┴ , перпендикулярный к ней (Е0=Е||+Е┴ ). Составляющая Е будет задержана вторым поляроидом. Через оба поляроида пройдет свет с электрическим вектором Е Е||, длина которого Е= Е0cos α. Интенсивность света, прошедшего через оба поляроида, будет Закон Малюса – для любого поляризатора и анализатора. Матрица Мюллера имеет вид для анализатора тот же, что и для поляризатора, т.к. применяется точно такой же поляроид:
Нормированный вектор Стокса падающего света в данном случае представляет собой:
Теперь перемножим матрицы Мюллера и вектор Стокса: Итак, видно, что интенсивность в системе поляризатор-МОК-анализатор составляет 0.637 от интенсивности входного оптического сигнала.
Интенсивность света I* на выходе МО прибора определяется следующим образом [1]: , где C – коэффициент, учитывающий оптические потери в поляризаторе и анализаторе, а также потери на отражение I0 – интенсивность падающего на поляризатор излучения, - коэффициент оптического поглощения МО среды, h – толщина пленки, - коэффициент, учитывающий неполноту погасания в системе поляризатор – МО среда – анализатор, Фпа – угловое отклонение от положения погасания в системе поляризатор – анализатор, - удельное фарадеевское вращение, - угол падения излучения. Контраст изображения K определяется следующим выражением
Оптическая эффективность η определяется по формуле Приведенные графики зависимости K(Фпа) на рис.1.15 (при толщине пленки hравной 4 мкм), и K(h) на рис. 1.16 (при Фпа равным 5 град.) показывают, что контраст получаемого изображения определяется отклонением от положения погасания и достигает максимального значения при значении . Максимальная чувствительность к управляющему полю достигается при равной 45 град., при этом
Для получения максимальной чувствительности толщина пленки определяется следующей зависимостью Оптический КПД тем выше, чем меньше оптическое поглощение и сильнее эффект Фарадея, другими словами, чем выше магнитооптическая добротность .
Популярное:
|
Последнее изменение этой страницы: 2016-08-31; Просмотров: 672; Нарушение авторского права страницы